双单色器双光束紫外光度计PCB抄板克隆
发布日期：2012-6-18 浏览次数：2083 次
宇达集成电路PCB抄板工作室是在电子设备pcb抄板、芯片解密、样机仿制克隆、制作与样机调试领域取得成功的一个典范。目前，宇达集成电路已经可以在该系列产品领域中为客户提供全方位的服务，我们不仅可以提供此系列产品的克隆仿制与二次开发，还可以提供诸多PCB设计、PCB抄板、电路板抄板、样机制作、样机调试、SMT加工等垂直化服务，尽最大限度地节省资源，实现客户利益最大化。
技术参数：
波长范围： 190nm～1100nm
光谱带宽： 0.1，0.2，0.5，1.0，2.0，5.0nm (6档可变)
测光方式： 透过率、吸光度、浓度、能量
波长准确度： ±0.3nm
波长重现性： 0.1nm
透射比准确度：±0.3%τ (0～100% τ)
透射比重复性：0.1%τ
基线平直度： ±0.0008Abs
光度范围： －5Abs～5Abs
杂散光： ≤0.001%τ (220nm NaI溶液， 360nm NaNO2溶液)
稳定性： 0.0002Abs/h (500nm预热后)
检测器： 进口光电检测器
光源： 进口氘灯，进口钨灯
电源： AC：220V/50Hz
功率： 400W
仪器尺寸： 730×530×230mm
主机重量： 40kg
主要特点：
在Windows 2000/XP/Vista环境下，提供中、英文（选）软件，功能丰富，操作简单。
十万分之一以下的超低杂散光，可以对高浓度的样品不进行稀释而直接测定。
光谱带宽：0.1、0.2、0.5、1、2、5nm六挡可变。
可扫描190～1100nm内任意波长范围的样品光谱特性，波长最小采样间隔为0.02nm。
可对光谱曲线直接进行转换、叠加运算、求导、峰谷检测、曲线平滑等多种方式处理。
可同时测量多个定点波长的数据，并根据用户自定义公式对数据进行四则计算，并保存自定义方法。
定量分析中提供单波长法、双波长法、三波长法、自定义法等多种标准曲线建立方法，并可对用户自定义方法进行保存，简化日后工作流程。
灵活的设置动力学扫描参数，完成定点波长的时间扫描，并进行与光谱曲线相同的处理。
内置DNA/蛋白质测量模块，用户可以直接对DNA/蛋白质进行浓度测量。
宽大样品室，可使用 5mm至100mm任意尺寸比色皿完成测量工作。
技术参数：
波长范围： 190nm～1100nm
光谱带宽： 0.1，0.2，0.5，1.0，2.0，5.0nm (6档可变)
测光方式： 透过率、吸光度、浓度、能量
波长准确度： ±0.3nm
波长重现性： 0.1nm
透射比准确度：±0.3%τ (0～100% τ)
透射比重复性：0.1%τ
基线平直度： ±0.0008Abs
光度范围： －5Abs～5Abs
杂散光： ≤0.001%τ (220nm NaI溶液， 360nm NaNO2溶液)
稳定性： 0.0002Abs/h (500nm预热后)
检测器： 进口光电检测器
光源： 进口氘灯，进口钨灯
电源： AC：220V/50Hz
功率： 400W
仪器尺寸： 730×530×230mm
主机重量： 40kg
主要特点：
在Windows 2000/XP/Vista环境下，提供中、英文（选）软件，功能丰富，操作简单。
十万分之一以下的超低杂散光，可以对高浓度的样品不进行稀释而直接测定。
光谱带宽：0.1、0.2、0.5、1、2、5nm六挡可变。
可扫描190～1100nm内任意波长范围的样品光谱特性，波长最小采样间隔为0.02nm。
可对光谱曲线直接进行转换、叠加运算、求导、峰谷检测、曲线平滑等多种方式处理。
可同时测量多个定点波长的数据，并根据用户自定义公式对数据进行四则计算，并保存自定义方法。
定量分析中提供单波长法、双波长法、三波长法、自定义法等多种标准曲线建立方法，并可对用户自定义方法进行保存，简化日后工作流程。
灵活的设置动力学扫描参数，完成定点波长的时间扫描，并进行与光谱曲线相同的处理。
内置DNA/蛋白质测量模块，用户可以直接对DNA/蛋白质进行浓度测量。
宽大样品室，可使用 5mm至100mm任意尺寸比色皿完成测量工作。