能量色散型X射线荧光分析仪PCB抄板克隆

发布日期：2012-6-28 浏览次数：1534 次

　　宇达集成电路PCB抄板工作室是在电子设备pcb抄板、芯片解密、样机仿制克隆、制作与样机调试领域取得成功的一个典范。目前，宇达集成电路已经可以在该系列产品领域中为客户提供全方位的服务，我们不仅可以提供此系列产品的克隆仿制与二次开发，还可以提供诸多PCB设计、PCB抄板、电路板抄板、样机制作、样机调试、SMT加工等垂直化服务，尽最大限度地节省资源，实现客户利益最大化。
　　技术参数：
　　可测量元素：原子序数13(Al)～92(U)
　　样品形态：固体、粉末、液体
　　X射线源：小型空冷式X射线管球(Rh靶)
　　管电压：15kV 、31kV、50kV 管电流：1mA
　　检测器：Si半导体检测器(无需液氮)
　　准直器：Φ1mm、Φ5mm(自动切换)
　　样品观察：彩色CCD摄像头
　　滤波器：4种模式自动切换
　　样品室：370(W) ×320(D) ×155(H)mm
　　重量：90kg(不含电脑)
　　定性分析功能：能谱测量、自动辨别，比较表示， KLM标示表示，差异表示
　　定量分析功能：块体FP法，块体检量线法(标准曲线法)
　　统计处理功能：MS-EXCEL?
　　报告制作：MS-WORD?
　　安装环境：温度：10℃～35℃(±)5℃
　　湿度：35%～80%
　　电源：AC100~120V、200~240V±10%、10A