电阻探针腐蚀监测仪PCB抄板克隆案例
发布日期:2012-7-16 浏览次数:1847 次
宇达集成电路PCB抄板工作室是在电子设备pcb抄板、芯片解密、样机仿制克隆、制作与样机调试领域取得成功的一个典范。目前,宇达集成电路已经可以在该系列产品领域中为客户提供全方位的服务,我们不仅可以提供此系列产品的克隆仿制与二次开发,还可以提供诸多PCB设计、PCB抄板、电路板抄板、样机制作、样机调试、SMT加工等垂直化服务,尽最大限度地节省资源,实现客户利益最大化。
技术参数:
腐蚀速率测量范围:1.0um/a~10.0mm/a
绝对测量精度:±5%
探头最大耐压:24.8MPa
工作温度:-50°C~250°C
Flash ROM:64kbyte(可存储4,000组数据)
AD分辨率:16bits
实时钟误差:±1分钟/年(自带电池)
电源:2节锂电池(ER25600)
箱体:Fibox FEX 191913G
本安特性:NEMA 4X, IP66, Ex IIC T4
仪器重量:2.0Kg
技术参数:
腐蚀速率测量范围:1.0um/a~10.0mm/a
绝对测量精度:±5%
探头最大耐压:24.8MPa
工作温度:-50°C~250°C
Flash ROM:64kbyte(可存储4,000组数据)
AD分辨率:16bits
实时钟误差:±1分钟/年(自带电池)
电源:2节锂电池(ER25600)
箱体:Fibox FEX 191913G
本安特性:NEMA 4X, IP66, Ex IIC T4
仪器重量:2.0Kg